面包体积测定仪BV-X用于制粉及配粉行业、烘焙行业、食品行业、食品添加剂配料行业、食品研发机构及厨房试用。

>> 主要特点和优点 <<

• 分析速度比传统的种子位移检测法快10倍，测样只需20-30秒
• 样品无需前处理，避免样品因挤压和磨损破坏导致数据误差
• 适用于各种尺寸的样品，灵活地调整激光传感器与样品的距离
• 操作简单，只需将样品固定于旋转支撑架上，由激光传感器围绕自转的样品自动旋转180 °,

>> 技术参数 <<